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Research

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Lakeshore 8400系列霍尔效应测试仪
release time:2016-09-27 06:43:09

Lakeshore 8400系列霍尔效应测试仪用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等半导体重要参数。温度范围:20K~1000K迁移率:10-3 to

SPS-放电等离子烧结系统
release time:2016-09-27 06:45:31

这款设备可以广泛用于各种新材料研究。尤其适合低温纳米烧结,梯度材料烧结以及各种高分子,树脂,金属,半导体,绝缘体的混合真空或大气烧结

LFA 457 热扩散系数测试系统
release time:2016-09-27 06:44:41

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了当代激光闪射测量技术的最新进展,精确测定样品热传导系数,且配备了低温炉。温度范围:-125℃~1100℃样品尺寸:6*6方片

ZEM-3 电导率与Seebeck系数测试系统
release time:2016-09-27 06:45:08

对于研究热电材料的科学家来说ZEM-3是不可或缺的试验装置。ZEM-3可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(BiTe, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系

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